테스트 시스템 전체는 필연적으로 시스템 오차(Systematic Errors)를 수반합니다.
이러한 오차가 보정되지 않은 데이터는
DUT 본연의 특성을 정확히 대변할 수 없습니다.
이번주는 RIGOL DNA 시리즈를 중심으로, 정밀한 마이크로웨이브 분석을 위해
측정 기준면(Reference Plane)을 이동시키고 오차 항을 수학적으로 제거하는
VNA 캘리브레이션의 핵심 이론과 실무 가이드를 준비했습니다.
👉 이번 어플리케이션 노트 요약
① 시스템 오차의 제거와 데이터 신뢰성 확보
장비 내부 및 연결 경로에서 발생하는 드리프트와 불완전성을 제거하여 데이터의 신뢰성을 확보하는 것이 캘리브레이션의 핵심 목적입니다.
이를 통해 측정 기준면을 케이블 끝단이나 DUT 접점으로 이동시켜 위상 및 진폭 오차를 정밀하게 보충할 수 있습니다.
② 측정 환경에 따른 캘리브레이션 방식의 선택
가장 범용적인 기계식 교정(SOLT: Short-Open-Load-Through)과 신속하고 정확한 전자식 교정(E-Cal) 중 측정 주파수 대역과 환경에 최적화된 방식을 선택해야 합니다.
특히 1 포트 및 2 포트 교정 등 측정 파라미터에 적합한 절차를 준수하는 것이 중요합니다.
③ 보정 상태 표시(Indicator)를 통한 결과 검증
캘리브레이션 완료 후 장비 화면에 표시되는 'C(Full Correction)' 또는 'C(Interpolated)' 등의 표시기를 통해 보정의 유효성을 즉각 식별해야 합니다. 만약 수정 속성(Correction Properties) 메뉴가 비활성화되어 있다면, 교정 절차의 재검토가 필요합니다.
